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當前分類數(shù)量:724  點擊返回 當前位置:首頁 > 中圖法 【TN4 微電子學、集成電路(IC)】 分類索引
  • 時序收斂的藝術:高級ASIC設計實現(xiàn)
    • 時序收斂的藝術:高級ASIC設計實現(xiàn)
    • 魏東/2024-6-1/ 科學出版社/定價:¥68
    • 本書采用實踐方法編寫,描述了使用MMMC實現(xiàn)高級ASIC設計的高級概念和技術。本書側(cè)重于物理設計、靜態(tài)時序分析(STA)、形式和物理驗證,書中的腳本基于Cadence?EncounterSystem?,涵蓋數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、多模式多角點分析、設計約束、布局規(guī)劃和時序、放置和時間、時鐘樹綜合、最終路線和時間、設計簽核等主題。 本

    • ISBN:9787030789273
  • ASIC設計與綜合
    • ASIC設計與綜合
    • 孫健,魏東/2024-6-1/ 科學出版社/定價:¥78
    • 本書全面介紹使用Verilog進行RTL設計的ASIC設計流程和綜合方法。本書共20章,內(nèi)容包括ASIC設計流程、時序設計、多時鐘域設計、低功耗的設計考慮因素、架構(gòu)和微架構(gòu)設計、設計約束和SDC命令、綜合和優(yōu)化技巧、可測試性設計、時序分析、物理設計、典型案例等。本書提供了大量的練習題和案例分析,可以幫助讀者更好地理解和

    • ISBN:9787030788283
  • 數(shù)字集成電路測試——理論、方法與實踐
    • 數(shù)字集成電路測試——理論、方法與實踐
    • 李華偉、鄭武東、溫曉青、賴李洋、葉靖、李曉維/2024-6-1/ 清華大學出版社/定價:¥79
    • 《數(shù)字集成電路測試——理論、方法與實踐》全面介紹數(shù)字集成電路測試的基礎理論、方法與EDA實踐。第1章為數(shù)字集成電路測試技術導論,第2~9章依次介紹故障模擬、測試生成、可測試性設計、邏輯內(nèi)建自測試、測試壓縮、存儲器自測試與自修復、系統(tǒng)測試和SoC測試、邏輯診斷與良率分析等基礎測試技術,第10章擴展介紹在汽車電子領域發(fā)展的

    • ISBN:9787302662037
  • Altium Designer 21實戰(zhàn)從入門到精通
    • Altium Designer 21實戰(zhàn)從入門到精通
    • 布克科技 趙景波 趙燕成 向華/2024-6-1/ 人民郵電出版社/定價:¥79.9
    • 本書以典型的應用實例為主線,介紹AltiumDesigner21的特點和功能,并詳細介紹利用該軟件完成原理圖設計和PCB設計的方法及流程。本書的主要內(nèi)容包括初識AltiumDesigner21,工程的組成、創(chuàng)建及管理,原理圖庫與元件庫,原理圖設計,PCB設計,PCB的DRC與文件輸出,2層Leonardo主板的PCB設

    • ISBN:9787115642486
  • 常用集成電路應用與實訓
    • 常用集成電路應用與實訓
    • 陳應華主編/2024-5-1/ 北京郵電大學出版社/定價:¥49
    • 本書共十一章,內(nèi)容包括:集成電路常識、常用數(shù)字集成電路、運算放大集成電路、聲音集成電路、電源集成電路、LED顯示控制集成電路、傳感器與測量集成電路、其他常用集成電路等。

    • ISBN:9787563572175
  • 集成電路導論
    • 集成電路導論
    • 張永鋒,王森,范洪亮編著/2024-5-1/ 化學工業(yè)出版社/定價:¥89
    • 《集成電路導論》一書立足于集成電路專業(yè)人才的專業(yè)需求及就業(yè)需求,詳細剖析了集成電路行業(yè)的發(fā)展過程及工藝要點,解讀了不同專業(yè)方向的崗位設置情況及技能要求。主要內(nèi)容包括:集成電路發(fā)展史、集成電路制造工藝、集成電路設計方法、集成電路應用領域、集成電路學科專業(yè)設置、集成電路就業(yè)崗位、集成電路工程師專業(yè)素養(yǎng)。

    • ISBN:9787122448033
  • 基于TSV的三維堆疊集成電路的可測性設計與測試優(yōu)化技術
    • 基于TSV的三維堆疊集成電路的可測性設計與測試優(yōu)化技術
    • (美)布蘭登·戴(Brandon Noia),(美)蔡潤波(Krishnendu Chakrabarty)著/2024-5-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥129
    • 本書首先對3D堆疊集成電路的測試基本概念、基本思路方法,以及測試中面臨的挑戰(zhàn)進行了詳細的論述;討論了晶圓與存儲器的配對方法,給出了用于3D存儲器架構(gòu)的制造流程示例;詳細地介紹了基于TSV的BIST和探針測試方法及其可行性;此外,本書還考慮了可測性硬件設計的影響并提出了一個利用邏輯分解和跨芯片再分配的時序優(yōu)化的3D堆疊集

    • ISBN:9787111753643
  •  超大規(guī)模集成電路物理設計:從圖分割到時序收斂(原書第2版) [美國]安德·B.卡恩
    • 超大規(guī)模集成電路物理設計:從圖分割到時序收斂(原書第2版) [美國]安德·B.卡恩
    • [美國]安德·B.卡恩 等/2024-5-1/ 機械工業(yè)出版社/定價:¥119
    • 在整個現(xiàn)代芯片設計的過程中,由于其復雜性,從而使得專業(yè)軟件的廣泛應用成為了必然。為了獲得優(yōu)異結(jié)果,使用軟件的用戶需要對底層數(shù)學模型和算法有較高的理解。此外,此類軟件的開發(fā)人員必須對相關計算機科學方面有深入的了解,包括算法性能瓶頸以及各種算法如何操作和交互!冻笠(guī)模集成電路物理設計:從圖分割到時序收斂(原書第2版)》介

    • ISBN:9787111752295
  • UVM芯片驗證技術案例集
    • UVM芯片驗證技術案例集
    • 馬驍/2024-5-1/ 清華大學出版社/定價:¥119
    • 本書是基于UVM驗證方法學的針對芯片驗證實際工程場景的技術專題工具書,包括對多種實際問題場景下的解決專題,推薦作為UVM的進階教材進行學習。不同于帶領讀者學習UVM的基礎用法,本書分為多個專題,每個專題專注解決一種芯片驗證場景下的工程問題,相關技術工程師可以快速參考并復現(xiàn)解決思路和步驟,實用性強。本書詳細描述了每個專題

    • ISBN:9787302658542
  • 微電子器件基礎
    • 微電子器件基礎
    • 王穎/2024-4-1/ 電子工業(yè)出版社/定價:¥59.8
    • 本書較全面地介紹常見微電子器件的基本結(jié)構(gòu)、特性、原理、進展和測量方法。為了便于讀者自學和參考,首先介紹微電子器件涉及的半導體晶體結(jié)構(gòu)、電子狀態(tài)、載流子統(tǒng)計分布和運動等基礎知識;然后,重點闡述半導體器件中的結(jié)與電容等核心單元的特性和機理;之后,詳細介紹雙極型晶體管、MOS場效應晶體管的基本工作原理、特性和電學參數(shù);在對經(jīng)

    • ISBN:9787121477393