本書涵蓋1842—1942年間以傳教士為主的西方人士在中國刊印出版的各類書籍以及海外出版的與中國文化相關的文獻,以作者全力收集到的上述出版物的出版時間、出版機構、內(nèi)容等為線索,分六十章展開,對這一時期出版的近千種出版物的版本、源流、主要內(nèi)容和歷史價值作了詳盡的梳理,探微發(fā)覆。作者的研究成果清晰地反映出“傳教士漢學”向“
為進一步貫徹落實“科教興國”戰(zhàn)略、為國內(nèi)專家學者提供更廣闊的學術交流平臺,“第十一屆全國科學計量學與科教評價研討會”以“大數(shù)據(jù)背景下‘五計學’與評價科學的新發(fā)展”為主題,會議論文成果代表了我國計量學領域的近期新進展和水平,內(nèi)容涉及計量學的理論、方法與應用等多個方面,集中探討了當前的學科前沿和發(fā)展方向。這些很好論文內(nèi)容上
黨的十九大報告將區(qū)域協(xié)調發(fā)展戰(zhàn)略搶先發(fā)售上升為統(tǒng)領性的區(qū)域發(fā)展戰(zhàn)略,正是為了解決新時代社會主要矛盾中的“不平衡不充分”的發(fā)展問題。本書以快速發(fā)展的四川省為例,對四川省區(qū)域協(xié)調發(fā)展和專業(yè)技術人才的近期新情況進行了分析,在了解四川省區(qū)域協(xié)調發(fā)展政策和專業(yè)技術人才政策演進過程的基礎上,探討區(qū)域專業(yè)技術人才政策的長效機制。特別
“讀圖時代”的到來,科學圖像成為連接藝術和科學的重要媒介。本書基于米歇爾批判圖像學,以科學圖像為研究對象,應用理論分析與實證研究相結合、審美敘事學、跨學科視景透視、定量與定性結合等方法,通過藝術符號實現(xiàn)“圖像轉向”和“科學可視化”路徑,研究科學圖像的視覺審美維度與風格化審美趨勢。
該書立足于科技史與科技哲學界的前沿成果和優(yōu)秀理念,把科學、技術置于文化環(huán)境內(nèi)考察,融學術界的前沿成就于通俗讀物中,形成一本兼具學術性與通俗性的作品;注重發(fā)揮科技史溝通科技文化與人文文化的功能,力求將科學史實、歷史思辨與文化評價融為一體,把更全面、更豐滿的科學形象呈現(xiàn)出來,把科學在歷史中的來龍去脈,以及它的文化背景和文化
本叢書共四本,分別是《基因與潛能:創(chuàng)新驅動發(fā)展》《源頭與活水:新型科研機構》《承載與遠見:機制催生創(chuàng)新》《催化與裂變:科技聯(lián)姻金融》。作為《中共中央 國務院關于支持深圳建設中國特色社會主義先行示范區(qū)的意見》出臺后第一部系統(tǒng)梳理深圳科技創(chuàng)新經(jīng)驗的叢書,旨在展現(xiàn)示范面貌,描述產(chǎn)業(yè)特色,前瞻升級方向,研究創(chuàng)
基礎研究成果的主要形式是在期刊、報紙、圖書等各種媒介上或者在會議、研討、論壇等各種活動中發(fā)表論文、綜述、評論等各種文獻。通過分析這些文獻的基本計量特征,有助于理解基礎研究人才的分布特點和發(fā)展趨勢?祁Nò玻–larivateAnalytics)數(shù)據(jù)庫提供了多年基礎研究的期刊論文、綜述、會議論文等多種文獻類型,涵蓋了所有
本書依托跨越中英兩國的一手調研資料和中外學術權威文獻提供的學術依據(jù),旨在探討全球一體化、國際教育和跨國學術交流之間的關系,從介紹全球化背景下的國際教育概況出發(fā),由淺入深、由抽象到具體地研究了在中英聯(lián)合辦學的高等教育機構里工作的中英學者跨國流動性的理論探討、經(jīng)驗研究和學術交流,從而挖掘出這種學術上的跨學科交流和流動性的移
《專利審查文件漢英翻譯》的編寫將以“實用”為中心,從實際審查意見出發(fā),并輔以錯誤譯文講解與探討,相關類型的專利審查文件翻譯練習,使學生按照學習經(jīng)典案例、探討缺陷譯文、動手翻譯實踐的步驟,一步一步成長為合格的專利審查文件譯員。總體分為三大部分:第一大部分為專利概況,主要介紹知識產(chǎn)權行業(yè)背景和專利申請文件構成。第二大部分由
本書從國家產(chǎn)業(yè)政策和專利數(shù)據(jù)庫的角度出發(fā),以我國戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)的專利統(tǒng)計數(shù)據(jù)為基礎,對產(chǎn)業(yè)專利數(shù)據(jù)庫的構建進行研究,詳細介紹了戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)政策解讀、戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)專利數(shù)據(jù)庫構建的意義,分析了產(chǎn)業(yè)專利數(shù)據(jù)庫的構建方法、專利數(shù)據(jù)的檢索與處理過程、中國專利深加工數(shù)據(jù)的特色,并從戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)專利申請量和變化趨勢、專利申請國