本書詳細介紹了集成電路測試的基本原理、測試系統(tǒng)和測試開發(fā)方法。首先介紹了集成電路測試的相關(guān)概念和術(shù)語，集成電路測試的最新發(fā)展趨勢；其次詳細介紹了集成電路直流參數(shù)測試和模擬集成電路測試的基本方法；再次介紹了數(shù)字集成電路的基本測試方法，然后在此基礎(chǔ)。上重點介紹了數(shù)�；旌想娐�(ADC/DAC)測試方法。此外，本書還對集成電路

一本聚焦熱門話題、熱門行業(yè)的實力之作，完整呈現(xiàn)芯片發(fā)明和發(fā)展的60多年歷程。 全書完整呈現(xiàn)了芯片發(fā)明與發(fā)展的歷程，從支撐芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展的量子力學講起，逐漸發(fā)展到半導體物理學，進而催生了半導體器件，這些器件又由簡到繁，像一顆發(fā)芽的種子，演化出了雙ji型晶體管、MOS場效晶體管、光電二ji管等，并由此集成構(gòu)造出了模擬芯片

本書主要講解集成電路工程技術(shù)人員初級的集成電路封測相關(guān)知識。

本書講解集成電路工程技術(shù)人員初級集成電路設(shè)計相關(guān)知識。

本書講解集成電路工程技術(shù)人員集成電路基礎(chǔ)知識。

本書包含集成電路工程技術(shù)人員初級集成電路工藝實現(xiàn)方面的知識。

本書基于電路設(shè)計工具AltiumDesigner22，該版本全面兼容18、19、20、21等版本的功能。全書共分為13章，詳細介紹了AltiumDesigner22的基本功能、操作方法和實際應(yīng)用技巧。本書作者具備十多年印制電路板(PCB)設(shè)計的實際工作經(jīng)驗并長期從事該課程的教學工作。本書在編寫過程中從實際應(yīng)用出發(fā)，以典

本書將系統(tǒng)地介紹微電子制造科學原理與工程技術(shù)，覆蓋集成電路制造所涉及的晶圓材料、擴散、氧化、離子注入、光刻、刻蝕、薄膜淀積、測試及封裝等單項工藝，以及以互補金屬氧化物半導體(CMOS)集成電路為主線的工藝集成。對單項工藝除了講述相關(guān)的物理和化學原理外，還介紹一些相關(guān)的工藝設(shè)備。

本書介紹CMOS模擬與射頻集成電路的基本知識，著重講述了利用CadenceADE軟件進行集成電路設(shè)計的仿真方法和操作流程。本書包含多種集成電路中常見電路單元的實例分析，包括運算放大器、低噪聲放大器、射頻功率放大器、混頻器、帶隙基準源、模-數(shù)轉(zhuǎn)換器等內(nèi)容。本書注重選材，內(nèi)容豐富，在基本概念和原理的基礎(chǔ)上，通過實例分析詳細

本書是一本芯片科普書，內(nèi)容系統(tǒng)全面、循序漸進。第一篇著重介紹芯片的前世今生及發(fā)展歷史，包括x86、ARM、RISC-V三大主流指令集及其應(yīng)用和市場現(xiàn)狀。第二篇主要介紹芯片從設(shè)計、制造到封測出廠的全過程，并從技術(shù)和應(yīng)用等層面解讀人們關(guān)心的諸多問題。第三篇介紹我國的芯片發(fā)展歷史，并分析了現(xiàn)階段國內(nèi)半導體產(chǎn)業(yè)的現(xiàn)狀和格局。第