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互換性與技術測量
定 價:42 元
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作者:主編孫慶唐
出版時間:2022/6/1
ISBN:9787302611431
出 版 社:清華大學出版社
中圖法分類:
TG801
頁碼:213
紙張:
版次:1
開本:26cm
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內容簡介
本書主要包括概論、尺寸極限與配合、配合公差的應用、幾何公差及檢測、公差原則及幾何公差選擇、表面粗糙度、光滑極限量規(guī)、尺寸鏈、公稱尺寸常用測量工具等內容, 集理論教學、實操實訓為一體, 采用最新國家標準, 文字敘述精煉, 內容圖文并茂、通俗易懂。
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