本書共分6章：第1章介紹了研究背景和主要內容，對目前嵌入式處理器調試技術領域現(xiàn)狀進行了概述，對多核處理器的調試挑戰(zhàn)進行了分析；第2章對解決工程問題的通用調試方法進行了論述，重點討論了集合與邏輯、概率與因果方法、邏輯樹與故障樹等方法，提出了基于概率故障樹的推理，并特別討論了質量歸零的方法和步驟；第3章概述了調試的技術和工具，討論了處理器調試的模型，提出了一套調試的理論模型和基于影響要素的調試方法論；第4章對嵌人式處理器系統(tǒng)的核心設計問題進行了分析論述；第5章結合10個經典調試案例，對軟硬件多種調試過程進行了深入描述和剖析；第6章對大量調試案例進行了分類歸納并簡要分析。