本書(shū)共包含9章的內(nèi)容。SSD測(cè)試概述(第1章)，介紹SSD和SSD測(cè)試相關(guān)的基礎(chǔ)知識(shí)。(第2-5章)，首先基于立項(xiàng)、計(jì)劃、設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)、執(zhí)行、總結(jié)這幾個(gè)階段介紹SSD測(cè)試的主要工作內(nèi)容及對(duì)應(yīng)實(shí)現(xiàn)方法，然后分享SSD測(cè)試的分類以及不同類型測(cè)試的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)方法，最后解讀SSD的通用測(cè)試平臺(tái)、測(cè)試軟件和專用測(cè)試平臺(tái)。(第6章)，剖析用于主控芯片測(cè)試的主要軟硬件平臺(tái)，及在對(duì)應(yīng)平臺(tái)上進(jìn)行主控芯片測(cè)試的方法。閃存測(cè)試(第7章)，深入分析閃存的失效模式，以及閃存測(cè)試的主要方法。測(cè)試認(rèn)證(第8章)，完整解讀業(yè)界主要的SSD認(rèn)證測(cè)試項(xiàng)目，包括PCI-SIG、UNH-IOL、WHQL以及國(guó)內(nèi)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)等。儀器與設(shè)備(第9章)，重點(diǎn)介紹用于SSD測(cè)試的儀器設(shè)備，包括RDT可靠性測(cè)試設(shè)備、協(xié)議分析儀等。