本書先介紹晶體材料物相分析常用的X射線衍射分析，詳細介紹了x射線的發(fā)現(xiàn)、x射線的本質和x射線的特性，重點介紹x射線衍射方向、衍射強度、衍射方法、物相分析及應用。接著介紹材料表面形貌和成分分析常用的掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡、x射線光電子能譜。然后介紹材料分子結構分析常用的紅外光譜和拉曼光譜。最后介紹廣泛應用于無機物和有機高分子材料成分分析、相變和熱分解機理的熱分析技術。本書涉及到了金屬材料、無機非金屬材料和高分子材料的各種常用的現(xiàn)代分析方法，注重理論與實際應用相結合，既著重介紹了現(xiàn)代技術的發(fā)展歷史和基本原理，又在實例分析中引入了一些當前材料界最新的研究成果。