本書主要包括晶體學(xué)、X射線衍射、電子光學(xué)與電子顯微學(xué)、掃描電子顯微術(shù)、透射電子顯微術(shù)、多功能掃描探針顯微術(shù)、光譜學(xué)等材料表征基礎(chǔ)，書中的實例分析重點引入了近年來材料表征方法在納米材料微觀組織結(jié)構(gòu)表征和分析方面的最新成果。