本書詳細(xì)介紹了電子元件及其集成電路的測試開發(fā)流程，全書包括測試開發(fā)流程、電阻的測試、二極管的測試、三極管的測試、MOSFET的測試、組合邏輯芯片測試開發(fā)、時(shí)序邏輯芯片測試開發(fā)、運(yùn)算放大器的測試開發(fā)、電源管理芯片測試開發(fā)九個(gè)項(xiàng)目。大部分項(xiàng)目包含“知識準(zhǔn)備”“項(xiàng)目實(shí)施”和“技能訓(xùn)練”三個(gè)部分，確保讀者能夠系統(tǒng)地學(xué)習(xí)每種電子元件的測試技術(shù)，并通過實(shí)踐提升自己的動手能力和問題解決能力。