隨著超高溫材料及超高溫裝備的快速發(fā)展，對(duì)超高溫環(huán)境下材料性能表征的需求也日益增長(zhǎng)。針對(duì)這一關(guān)鍵需求，本書系統(tǒng)化、專業(yè)化地介紹了超高溫測(cè)量面臨的挑戰(zhàn)和困難，提出了超高溫表征技術(shù)研究新方向，總結(jié)了作者近年來(lái)在紫外數(shù)字圖像相關(guān)方法(UV-DIC)領(lǐng)域的最新研究成果，內(nèi)容涵蓋超高溫紫外成像原理、高溫散斑制備技術(shù)以及在高溫UV-DIC應(yīng)用方面的探索。全書共14章，包括：緒論、高溫變形測(cè)量技術(shù)的分類、散斑的分類、制備工藝及其應(yīng)用、高溫(1400℃)散斑制備工藝及穩(wěn)定性評(píng)價(jià)、原位紫外高溫觀察系統(tǒng)(UV-HTOS)及其應(yīng)用、基于紫外高溫成像的Cf/SiC局部變形表征、紫外3D-DIC系統(tǒng)的搭建與初步驗(yàn)證、紅外石英燈加熱前表面變形測(cè)量、基于UV-3D-DIC的電弧加熱風(fēng)洞燒蝕測(cè)量、高溫鎳基合金(980℃)下的原位蠕變表征、紫外成像同步測(cè)變形-測(cè)溫技術(shù)等。通過(guò)本書，讀者可以全面了解紫外數(shù)字圖像相關(guān)方法在極端環(huán)境下的應(yīng)用前景，并為其在相關(guān)領(lǐng)域的研究工作提供有價(jià)值的參考。