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RTL設(shè)計師面試攻略

RTL設(shè)計師面試攻略

定  價:68 元

        

  • 作者:孫健,魏東
  • 出版時間:2026/1/1
  • ISBN:9787030838216
  • 出 版 社:科學出版社
  • 中圖法分類:TN402 
  • 頁碼:187
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16
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讀者對象:數(shù)字IC設(shè)計工程師,高等院校微電子、自動化、電子信息等相關(guān)專業(yè)師生

本書從RTL設(shè)計師視角出發(fā),系統(tǒng)梳理ASIC/VLSI行業(yè)標準工作流程中的關(guān)鍵知識與面試要點,通過分享行業(yè)經(jīng)驗與獨特視角,幫助讀者理解企業(yè)所需技能,提升面試競爭力,斬獲心儀職位。
  全書分為三大部分:第一部分圍繞架構(gòu)與微架構(gòu)展開,涵蓋CPU流水線、CPU亂序調(diào)度、虛擬內(nèi)存和TLB、緩存一致性、FIFO、CDC、LRU算法、重排序、仲裁器、數(shù)字分頻器、算術(shù)邏輯設(shè)計、序列產(chǎn)生器等;第二部分聚焦驗證、實現(xiàn)、綜合與功耗,詳細講解設(shè)計驗證、形式驗證、CDC檢查、RDC檢查、ECO流程等;第三部分涉及物理設(shè)計和芯片調(diào)試,包括STA、SDC、時序ECO等;同時在末尾分享行為類問題及實用面試建議等。


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