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公差配合與技術測量
定 價:35 元
作者:周京,黃穎主編
出版時間:2023/1/1
ISBN:9787560666617
出 版 社:西安電子科技大學出版社
中圖法分類:
TG801
頁碼:147頁
紙張:
版次:1
開本:26cm
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讀者對象
:高職
內容簡介
本書結合新時代高職高專院校教育要求和特點,以“必備、夠用”為原則組織內容,力求語言簡練、條理清晰、深入淺出,以任務引入與思考的方式引導相關的內容學習,強化理論性與應用性的結合。本書共分八個項目,分別為緒論、測量技術基礎、極限與配合基礎、形狀和位置公差、光滑極限量規(guī)設計、表面粗糙度及檢測、螺紋結合的公差與檢測、圓錐的公差配合及測量。
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