本書共十章，主要內(nèi)容有實驗室基本知識，無機實驗室常用儀器，無機實驗常見基本操作，化學原料實驗，元素性質(zhì)實驗，化合物制備實驗和綜合設計實驗等。全書共34個實驗，實驗安排上遵循由淺入深、由簡單到復雜、由基礎實驗操作訓練到綜合設計漸進的原則，注意各部分內(nèi)容的內(nèi)在聯(lián)系和相互滲透，提高了綜合實驗與設計實驗項目的比例本書可供化學、

《分析化學》從分析檢驗工作必備的知識與技能出發(fā)，注重理論在實踐中的應用，強化撰寫工作計劃、統(tǒng)籌安排實驗、規(guī)范操作儀器、熟練處理數(shù)據(jù)的訓練。教材內(nèi)容主要涉及實驗室基本常識與安全、實驗數(shù)據(jù)的表達與處理、酸堿滴定技術、氧化還原滴定技術、沉淀滴定技術、配位滴定技術、重量分析技術、吸光光度分析技術，涵蓋了分析檢測崗位必備的稱量、

1、概率論基礎知識；2、基礎理論：隨機過程的引入（定義的引入、分類、平穩(wěn)過程）、離散時間的Markov鏈（定義的引入、分類、不變測度、極限定理）、最優(yōu)停時與鞅、連續(xù)時間的Markov鏈（定義的引入、Poisson過程、Renew過程、應用案例）、連續(xù)時間的隨機過程（布朗運動）、隨機分析及隨機微分方程；3、應用案例分析：

真實世界中的序列數(shù)據(jù)隨時間推移呈爆炸式增長，如何設計面向序列數(shù)據(jù)的知識發(fā)現(xiàn)方法是當前研究的熱點之一。本書以深度學習和多視圖學習為理論基礎，以序列數(shù)據(jù)為研究對象，為面向序列數(shù)據(jù)分析提供多視圖的學習方法與技術，同時為典型場景下的序列數(shù)據(jù)分析提供多視圖深度學習解決方案，以期為序列數(shù)據(jù)分析、多視圖學習領域的研究及應用提供參考。

本書介紹X射線物理學基礎、X射線衍射方向和衍射強度、多晶體X射線衍射分析等基本理論知識，在此基礎上介紹當前科學研究中經(jīng)常使用的各種X射線技術，包括利用X射線衍射技術分析材料的物相、殘余應力、晶粒尺寸、位錯密度、織構(gòu)等，以及利用X射線光電子能譜分析材料表面元素種類、含量。此外，本書還介紹了近年來基于電子計算機斷層掃描技術

本書通過一系列重要的數(shù)學地標，系統(tǒng)地梳理了微積分理論，既包含課堂上沒講授的數(shù)學通識內(nèi)容，又包含對一些復雜知識點的細致拆解，還包含微積分在現(xiàn)實生活中的應用，幫助讀者開闊數(shù)學視野、提高數(shù)學思維、加深對數(shù)學的理解。 全書共分為四篇：第一篇“數(shù)學通識，一些你應該了解的觀點和事實”為讀者構(gòu)建數(shù)學學習的理念和方法；第二篇“從有限

《薄膜物理與技術》主要闡述了薄膜物理與薄膜技術的基礎理論知識，重點講述了薄膜生長基礎，薄膜生長技術，包括蒸發(fā)、濺射、離子鍍、化學氣相沉積、原子層沉積、化學溶液沉積以及納米薄膜組裝等，并對薄膜的基本性質(zhì)及與光、電相關的一些薄膜材料進行了介紹。本書可作為高等學校材料科學與工程、電子科學與技術、微電子、光學等專業(yè)的本科生或研

本書是高等職業(yè)教育分析檢驗技術專業(yè)模塊化系列教材的一個分冊，包括4個模塊25個學習單元。主要介紹分析采樣與制樣操作的基本知識和操作，主要包括固體試樣的采集和制備、固體試樣的分解、液體試樣的采集和制備、氣體試樣的采集和制備等基本操作。在每個模塊的學習單元中，都安排了一定數(shù)量的技能操作單元，供學生練習操作、掌握操作技能之用

本書在概述大環(huán)化合物的研究概況、發(fā)展趨勢及展望的基礎上，系統(tǒng)闡述了普通大環(huán)化合物的立體化學，包括大環(huán)烷、大環(huán)烯烴，大環(huán)炔烴，大環(huán)酮、大環(huán)內(nèi)酯、大環(huán)內(nèi)酰胺的構(gòu)象，及其由環(huán)內(nèi)雙鍵和環(huán)上取代基引起的順反異構(gòu)等內(nèi)容，重點分析了大環(huán)化合物的構(gòu)象。此外，還介紹了大環(huán)化合物某些特有的性質(zhì)以及發(fā)生在大環(huán)環(huán)上的幾個典型反應的構(gòu)象分析。本

本書全面地介紹了基于狀態(tài)空間模型的線性定常系統(tǒng)理論。除了運動分析、能控能觀性、穩(wěn)定性、反饋鎮(zhèn)定、極點/特征結(jié)構(gòu)配置、觀測器設計等基礎理論之外，本書首次系統(tǒng)性地介紹了線性系統(tǒng)的輸入輸出標準型理論，全面地解決了狀態(tài)反饋極點配置、解耦控制、最小相位系統(tǒng)的輸出反饋鎮(zhèn)定、基于逆系統(tǒng)的輸出跟蹤、基于平坦輸出的狀態(tài)跟蹤等問題；充分利